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河南大學,Nature!
納米技術 納米人 2024-11-25

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綠光磷化銦(lnP)量子點發光二極管(QD-LED)面臨著效率低和壽命短的問題,因此如何開發不含鎘(Cd)的QD-LED和照明器件仍受到阻礙。但是,目前人們并不清楚導致效率低和壽命短的主要原因。

有鑒于此,河南大學申懷彬教授、陳斐、中國科學技術大學樊逢佳教授、北京交通大學唐愛偉教授等報道通過電化學激發瞬態吸收光譜(electrically excited transient absorption spectroscopy),發現目前最好的QD-LED(核-殼-殼結構的InP–ZnSeS–ZnS)低效率問題的原因是中間層ZnSeS產生的,其具有更高的勢壘,限制了電子濃度以及陷阱的飽和。

這項研究發現,增加ZnSe中間層的厚度,并且替代目前常用的ZnSeS,能夠改善電子注入并且同時抑制泄露,實現了26.68%的峰值量子效率和1241h的T95壽命,性能達到報道的結果的1.6倍和165倍。亮度超過270000cd m-2,數值達到目前的紀錄。實驗結果能夠使用量子WKB隧穿模型(Wentzel–Kramers–Brillouin)解釋。   
 
電子濃度測試
通過電化學激發瞬態吸收光譜(EETA)觀測QE-LED中的電子性質,這種技術使用電化學激發電子,而不是激光。EETA技術能夠表征量子點和其他層內的電子和空穴淬滅過程,是一種非常好的技術能夠觀測QE的電子性質。
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圖1. EETA光譜

測試電子布居數目(<Ne>)。通過比較EETA光譜和PETA光譜的淬滅過程,能夠從EETA光譜得到<Ne>。分別測試了紅色、綠色、藍色的Cd基QD-LED,發現  <Ne>在4V分別為0.45、0.26、0.15,對應于量子效率分別為27.11%、23.20%、21.00%。作者根據ABC模型J = An+Bn2+Cn3解釋QE性質。隨后發現InP–ZnSeS–ZnS QD-LED遵循同樣規律,但是比CdSe QE-LED具有更加顯著的降低。對紅色光和綠色光的分別為0.50和0.09。因此,綠光InP QD-LED的低效率主要原因是電子濃度低。根據ABC模型,難以克服電子俘獲的能量損失。

提高電子濃度
作者通過減少電子注入的勢壘,提高電子濃度,改善InP QE-LED在540nm的綠光壽命。首先,嘗試了逐步降低ZnSeS中間層的ZnS成分,同時保持厚度為2.5nm,并且ZnS外層(0.5nm)不變。EETA光譜表征結果表明,ZnS含量減少,<Ne>逐漸增加,導致量子效率從7.43%增至15.12%。但是這個量子效率仍然難以達到紅色lnP QD-LED。
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圖2. 改善InP QD-LED綠色光量子效率的方法

研究發現ZnSe中間層的ZnS成分減少,導致空穴濃度降低,這是因為空穴注入得到改善。而且,發現空穴漂白測試結果的異常減少,這導致更多的電子泄露。因此,電子泄露的增加導致增加電子濃度對改善量子效率的效果非常有限。

隨后,通過增加ZnSe中間層的厚度改善量子效率。通過EETA光譜表征發現,當ZnSe殼層的厚度減少,電子濃度只有少量降低,但是與2.5nm ZnSeS殼的QE LED對比發現,ZnSe中間層內的電子濃度顯著改善。因此,通過這種方法,綠色lnP QD-LED的量子效率突破25%。

量子隧穿模型    
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圖3. QD-LED電子注入、電子泄露的隧穿模型

根據實驗結果,降低ZnSeS中間層的ZnS比例可以更有效的電子注入。但是同時增加了電子泄漏,導致量子效率的提升非常有限。相比,增加ZnSe中間層的厚度能夠同時實現高效率的電子注入和較低的電子泄漏,因此顯著的增強綠色InP基QD LED的量子效率。這個現象能夠通過WKB量子隧穿模型解釋。

根據WKB鏈子隧穿模型,比較了2.5nm ZnSeS、2.5nm ZnSe、4.5nm ZnSe中間層的QE LED量子點。發現ZnSeS中間層內的ZnSe含量降低,能夠顯著增加Tinjection和Tleakage。這與改善量子效率的效果非常有限相符。但是,當使用純ZnSe中間層同時提高中間層的厚度,發現Tinjection和Tleakage都降低,而且Tleakage的降低比Tinjection的降低更加顯著,因此Tinjection/Tleakage增加。這個現象使得量子效率發生顯著的改善

高性能QD-LED
測試ZnSe中間層厚度為4.0nm的QD-LED。由于高效率的電子注入,器件表現了低于帶隙的啟動電壓,而且由于電子泄露較低,實現了26.68%的量子效率,112.56cd A-1的電流效率,277000cd m-2的最大亮度。這些參數是綠色InP量子點的最高數值    
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圖4. InP厚層ZnSe-ZnS QD-LED的性能

在3.0V和9.0mA cm-2電流密度時,亮度高達6718cd m-2,在這個亮度的T90和T50分別達到35.9h和203h。100cd m-2的T95壽命達到89900h,T50壽命達到1241h。這不僅比其他殼層量子點器件的性能更高,而且性能達到報道的InP QE-LED的165倍。在100cd m-2的T50達到50800h,比目前最高的結果高8倍。
          
參考文獻
Bian, Y., Yan, X., Chen, F. et al. Efficient green InP-based QD-LED by controlling electron injection and leakage. Nature (2024).     
DOI: 10.1038/s41586-024-08197-z
https://www.nature.com/articles/s41586-024-08197-z

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