前2期，我們介紹了DLS的原理和檢測步驟。那么，DLS檢測粒徑分布的結(jié)果，只看平均粒徑可以嗎？看哪個分布的平均粒徑呢？數(shù)據(jù)質(zhì)量高嗎？數(shù)據(jù)是否可靠呢？本期，我們將為你解答這些疑惑。
一般而言，通過DLS儀器進行Size測試，會首先得到以下界面：
圖1. DLS檢測儀器界面（以馬爾文ZetaSizer為例）
進一步，我們可以得到得到這樣一個完整的檢測報告（以Intensity為例）：
圖2.檢測報告
1. 其中最重要的參數(shù)是以下2個：
1）Z-Average size：這是通過強度分布得到的粒徑平均值，這個是最原始、也是最重要的數(shù)據(jù)。（關(guān)于如何選擇強度分布、體積分布和數(shù)量分布得到的結(jié)果，請參考“DLS粒徑分布的三個關(guān)鍵”）
只有當樣品只有一個峰、球形和單分散性（即對分布沒有寬度），且樣品在恰當?shù)姆稚┲兄苽?，則動態(tài)光散射的結(jié)果與其它技術(shù)才有可比性。在其它任何情況下，Z-Average size僅可用于與同一分散劑中、以動態(tài)光散射（DLS）
測量的樣品進行結(jié)果比較。
2）PDI：納米材料的尺寸多分散性，一般0.1以下就表示尺寸較均勻。
對于分布較寬，PDI超過0.5時，依靠Z-Average size是不準確的；應(yīng)使用distribution analysis（分布分析）來確定峰位置
2. 其他數(shù)據(jù)的輔助分析
1）相關(guān)函數(shù)
圖3. 相關(guān)函數(shù)曲線代表的意義
圖4. 相關(guān)函數(shù)表明：顆粒較大，多分散較高，巨大顆粒或聚集體存在
圖5. 相關(guān)函數(shù)表明：顆粒較大，多分散性中等，巨大顆?；蚓奂w存在
圖6. 相關(guān)函數(shù)表明：顆粒較小，多分散性中等，無巨大顆?；蚓奂w存在
2）強度漲落曲線
光強度漲落的變化速率與顆粒的大小有關(guān)。小顆粒在液體中運動速度較快，而大顆粒運動相對緩慢。相同時間內(nèi)，小顆粒位移比較小，強度漲落幅度較?。淮箢w粒位移比較大，強度漲落幅度較大。
圖7. 強度漲落和納米顆粒尺寸的關(guān)系
圖8. 尖峰一般來源于灰塵干擾
圖9. 波動幅度較寬，可能是溫度不夠均勻，需要進一步平衡溫度
圖10. 穩(wěn)定增加的光強表明樣品在聚集，而穩(wěn)定降低的光強表明樣品在沉積
3.數(shù)據(jù)導(dǎo)出
如果只是需要看一下結(jié)果，直接剪切圖片，或者輸出PDF報告就可以。如果需要用origin作圖，在work sheet添加Intensity（or volume） distribution項目，copy數(shù)據(jù)，粘貼到TXT文本即可。
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